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當(dāng)前位置:上海貝丁漢工業(yè)自動化設(shè)備有限公司>>德國JENAer公司>>雙頻激光干涉儀>> 多軸路同步測量激光干涉儀(型號:ZLM800,德國JENAer公司生產(chǎn),)
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海
更新時間:2022-04-26 15:45:56瀏覽次數(shù):590次
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ZLM800多軸路同步測量激光干涉儀——真正的雙頻激光干涉儀,主要用于各種平臺和部件的微位測量、各種擺鏡角度變化量的監(jiān)測、運(yùn)動平臺位移量和角度變化的檢測、光刻機(jī)幾何量的測量、數(shù)控機(jī)床幾何量的測量等,最多可實(shí)現(xiàn)六軸聯(lián)動。也可通過位移+偏擺+俯仰的三角關(guān)系檢測物體的振動變化。
1.納米級的多軸聯(lián)動位移、速度、加速度的動靜態(tài)測量分析及運(yùn)動控制環(huán)同步測量校準(zhǔn);
2.同步實(shí)時測量多軸聯(lián)動驅(qū)動部件的俯仰、扭擺、滾動的角位移變化, X-Y-Z 軸的聯(lián)動插補(bǔ)位移誤差及驅(qū)動匹配誤差分析;
3.納米級振動的多軸向同步數(shù)據(jù)采集測量和分析。
±0.1ppm 示值 資料下載
性能優(yōu)勢
技術(shù)參數(shù)
32 Bit (實(shí)時時間)
數(shù)據(jù)延時< 20 ns
應(yīng)用案例
ZLM800部分光路圖示例
從X、Y和Z方向同時測量位移變化,其中X和Y在一個水平層面上
視頻資料(光刻機(jī)應(yīng)用)
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