深圳市天禧儀器有限公司
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更新時間：2023-10-30 09:50:37瀏覽次數(shù)：411次
聯(lián)系我時，請告知來自 包裝印刷網(wǎng)用途：場發(fā)射環(huán)境掃描電鏡，配備能譜儀和冷臺。掃描電鏡和能譜儀，可用于測試各種材料，如金屬材料、高分子材料、無機材料（礦物、巖土、甚至含水分材料）等的樣品表面二次電子形貌信息，背散射電子組分區(qū)分，能譜元素成分分析。結合冷臺，可通過控制樣品室內(nèi)溫度和濕度，模擬環(huán)境測試樣品在動態(tài)環(huán)境中的形貌和組分變化，并記錄這些變化的過程。
的高性能SEM
Apreo掃描電子顯微鏡（SEM）革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁力浸沒技術，可產(chǎn)生的分辨率和信號選擇。這使得Apreo SEM成為研究納米顆粒，催化劑，粉末和納米器件的平臺，同時不會影響磁性樣品的性能。
Apreo SEM得益于的鏡頭內(nèi)反向散射檢測，即使在傾斜，短工作距離或敏感樣品上也能提供出色的材料對比度。新型復合透鏡通過能量過濾進一步改善了對比度，并為絕緣樣品的成像增加了電荷過濾?？蛇x的低真空模式現(xiàn)在具有500 Pa的腔室壓力，即使是的絕緣體也能成像。
憑借所有這些選項，包括復合最終鏡頭，*的檢測和靈活的樣品處理，Apreo SEM的性能和多功能性將在未來許多年內(nèi)滿足您的研究挑戰(zhàn)。
新型Apreo掃描電子顯微鏡（SEM）可為各種材料（包括納米顆粒，金屬，復合材料和涂層）提供高性能，并結合創(chuàng)新功能，以獲得更好的分辨率，對比度和易用性。
?的復合最終鏡頭在1 kV時可提供1.0 nm的出色分辨率，無需任何樣品的光束減速，即使它是傾斜的或地形的。
?用的反向散射檢測 - 材料對比度始終可用，即使在低電壓和電子束電流，任何傾斜角度，光束敏感樣品和電視速率成像時也是如此。
?的探測器靈活性 - 通過組合各個探測器段的信息，獲得最重要的對比度或信號強度。
電子光學：
1.1發(fā)射源：鎢燈絲（高性能電子光學鏡筒，雙陽極熱發(fā)射電子槍）
1.2固定式物鏡光闌，無需手動調(diào)整使用方便
1.3加速電壓：200V – 30kV，自動256級偏壓設計
1.4放大倍數(shù)：6× - 1000000×
1.5極靴內(nèi)有一路單獨抽真空系統(tǒng)，保證在低真空和環(huán)境模式下電子槍高真空和不受污染，延長燈絲壽命
1.6電子束束流：可達到的值不小于2µA，并連續(xù)可調(diào)
1.7使用工廠預對中燈絲更換方便
真空系統(tǒng)
2.11個250 l/s分子渦輪泵+1個機械泵
2.2高真空模式：＜1×10-5 Pa
2.3低真空模式：10 – 130 Pa
2.4環(huán)境真空模式：10 – 2600 Pa
2.5高真空模式下的換樣時間：≤150秒
2.6低真空及環(huán)境真空模式下的換樣時間：≤270秒
分辨率
3.1高真空模式下的分辨率
3.1.130 kV下3.0 nm (二次電子)
3.1.230 kV下4.0 nm (背散射電子)
3.1.33 kV下8.0 nm (二次電子)
3.2環(huán)境真空模式下的分辨率（以英文樣本公布的參數(shù)為準，并作為驗收指標）
3.2.130 kV下3.0 nm (二次電子)
3.2.2具備獨立的環(huán)境真空/超低真空模式二次電子探頭
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