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近場掃描光學顯微鏡

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更新時間：2023-03-19 14:07:40瀏覽次數：431次

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產品簡介

近場掃描光學顯微鏡NSOM采用SNOM技術幫助用戶獲得的光學空間分辨率,具有原子力顯微鏡模式和光子計數模式的熒光和光學圖像

詳細介紹

近場掃描光學顯微鏡NSOM采用SNOM技術幫助用戶獲得的光學空間分辨率,具有原子力顯微鏡模式和光子計數模式的熒光和光學圖像。
近場掃描光學顯微鏡NSOM特點
具有原子力顯微鏡AFM工作模式
具有激光和燈泡照明成像
可以提供訂制化探針
光子計數模式的熒光和光學圖像
近場掃描光學圖像具有采集和照明模式
透過或反射模式選配
20nm光學分辨率（Raleigh標準空間分辨率）
光學顯微鏡支架，配備長工作距離物鏡
飛秒激光或紫外激光激發(fā)
真實單分子探測
環(huán)境光防護裝置

近場掃描光學顯微鏡NSOM應用
分子光譜學，熒光，表面科學，薄膜，生物學，化學，固體物理，納米技術，材料科學，醫(yī)學等
近場掃描光學顯微鏡NSOM規(guī)格參數
（XY樣品掃描器部分）
20mm直徑，中間開口
掃描尺寸： 40μm x 40μm
最小掃描步進： 0.01nm
圖像尺寸: 1024 x 1024像素
XY行程： 10mm x 10mm (計算機控制)
光學分辨率： 50nm典型值 (受探針和樣品影響)
（壓電Z軸臺安裝探針）
Z-升降行程: 9 mm
Z掃描范圍: ±5 μm
（光子計數）
光子計數速率: 5 x 10⁷ cps
暗計數: < 10 cps
光譜相應: 185 - 680 nm (185 nm - 850nm可選)
（照明光源）
150 W quartz - halogen lamp
670 nm laser diode
532 nm solid state laser
488 nm Ar-ion or solid state laser
400 nm femtosecond laser
（建議探針）
633 nm single mode, Al - coated (50 - 80 nm aperture), 100 kHz resonance
400 nm single mode, Al - coated (<100 nm aperture), 32 kHz resonance
尺寸
光學單元部分（帶有 light-tight box）: 350 (W) x 460 (D) x 460 (H)mm
電子控制單元部分: 19” rack mountable or 170 (W) x 420 (D) x 200 (H)

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