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SN結(jié)構(gòu)真空紫外光譜儀234/302

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地上海市

更新時間:2023-06-12 08:01:16瀏覽次數(shù):276次

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SeyaNamioka結(jié)構(gòu)真空紫外光譜儀SeyaNamioka結(jié)構(gòu)采用一片凹面光柵完成衍射與成像,包含角約70°

Seya Namioka 結(jié)構(gòu)真空紫外光譜儀


Seya Namioka 結(jié)構(gòu)采用一片凹面光柵完成衍射與成像,包含角約70°。單反射面具備較低反射損失,最短適用波長可達30nm。儀器可配置入射、出射狹縫構(gòu)成單色儀,采用全息校正光柵或非球面光柵進行像場校正時可搭配CCD等平面探測器使用。


234 302.jpg

圖1 234/302 光譜儀的多種配置

234/302型200mm焦距S-N結(jié)構(gòu)光譜儀是McPherson的真空紫外光譜儀,目前更新為型號Monarch。光譜儀具備200mm焦距、F/4.5相對口徑,最短適用波長可達30nm、分辨率0.1nm。234/302 配備IV類像差校正的光柵,可作為掃描單色儀使用,也可配接CCD相機等多通道探測器作為光譜儀使用;支持雙光柵塔輪、雙入口或雙出口切換、雙級聯(lián)單色儀等擴展。標準型號支持1E-6 Torr 高真空,另可選擇不銹鋼腔體的超高真空型號。


產(chǎn)品特點

l IV類像差校正,可搭配CCD或MCP

l 200mm焦距,F(xiàn)/4.5大口徑

l 靈活配置及選項:雙光柵塔輪,多出(入)口,超高真空


主要參數(shù)

光學設(shè)計

像差校正Seya-Namioka,32°入射角

焦距

200mm

相對口徑F/No.

4.5

波長范圍

30nm ~ 550nm,取決于光柵

波長準確度

±0.1nm(1200g/mm光柵)

波長可重復性

±0.05nm(1200g/mm光柵)

狹縫

0.01 - 3mm連續(xù)可調(diào)

真空度

1E-6 Torr;可選UHV

焦平面

25mm


光柵選型表

刻畫密度 (g/mm)

2400

1200

600

300

分辨率 (nm,FWHM)

0.05

0.10

0.2

0.4

色散 (nm/mm)

2

4

8

16

波長范圍 (nm)

225

550

1100

2200

優(yōu)化波長 (nm)

80

140

140

140


140


300



光譜示例

圖2 采用不同光柵獲取的He-Ne混合空芯陰極燈光譜.png

圖2 采用不同光柵獲取的He-Ne混合空芯陰極燈光譜


典型應用

l 真空紫外發(fā)光與激光

l 真空紫外可調(diào)單色光源

l 等離子體光譜診斷

l 紫外光電子能譜


更多型號產(chǎn)品

面向更高分辨率的需求,McPherson可提供500mm、1000mm長焦距的S-N結(jié)構(gòu)光柵光譜儀,分辨率分別達到0.025、0.05nm。

Model 235.pngModel 231.png

圖3 Model 235(左,500mm焦距)、Model 231(右,1m焦距)S-N結(jié)構(gòu)VUV光譜儀


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