愛色麗X-Rite光澤度測量是通過以某個角度射出一束恒定功率光束來測試表面并監(jiān)控反射光來完成的。 不同的表面需要不同的反射角度。越來越多的規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)都要求對光澤度進(jìn)行物理評估。 光澤度測量對監(jiān)測涂層的均勻度、*性甚至是保護(hù)性光澤涂層的損壞度是很有必要的。X-Rite Elcometer 406 Novo-Gloss 微型光澤度測量儀具有 60°統(tǒng)計型和雙角度 20/60°統(tǒng)計型兩個版本，允許對從亮光到不光滑的任何表面進(jìn)行測量，提供光澤度測量的數(shù)值。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

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愛色麗X-Rite光澤度測量是通過以某個角度射出一束恒定功率光束來測試表面并監(jiān)控反射光來完成的。 不同的表面需要不同的反射角度。越來越多的規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)都要求對光澤度進(jìn)行物理評估。 光澤度測量對監(jiān)測涂層的均勻度、*性甚至是保護(hù)性光澤涂層的損壞度是很有必要的。X-Rite Elcometer 406 Novo-Gloss 微型光澤度測量儀具有 60°統(tǒng)計型和雙角度 20/60°統(tǒng)計型兩個版本，允許對從亮光到不光滑的任何表面進(jìn)行測量，提供光澤度測量的數(shù)值。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

l         自動校準(zhǔn) - 預(yù)設(shè)瓷片值選項(xiàng)，可供快速校準(zhǔn)

l         *校準(zhǔn)瓷片狀態(tài)警告

l         所有從非反射表面到鏡面光澤表面的光澤度讀數(shù)

l         對可變表面進(jìn)行連續(xù)測量

l         可使用任何標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)（AS 1580-602.2、ASTM 523、ASTM D 1455、ASTM C 584、BS 3900-D5 BS 6161-12、DIN 67530、ECCA T2、ISO 2813、ISO 7668）

l         可*溯源至國家標(biāo)準(zhǔn)，包括 BAM

l         可內(nèi)部計算zui大值、zui小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和偏差系數(shù)

 

選擇型號：

Elcometer 406型60º光澤度測量儀

          Elcometer 406型20º/60º光澤度測量儀