設備用途
設備主要是針對于電工、電子產品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。本試驗設備主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產品的性能,是否仍然能夠符合預定要求,以便于產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
設備符合標準
GB 10589 低溫試驗箱技術條件
GB 10592 高低溫試驗箱技術條件
GB 11158 高溫試驗箱技術條件
GB/T5170.2 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備
GB2423.1 電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2 電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導則
型號 | GDW-50 | GDW-100 | GDW-150 | GDW-225 |
工作室尺寸:mm | 350×350×450 | 400×450×550 | 500×500×600 | 500×600×750 |
型號 | GDW-408 | GDW-800 | GDW-1000 | GDW-1500 |
工作室尺寸:mm | 650×750×850 | 800×1000×1000 | 1000×1000×1000 | 1500×1000×1000 |
技 術 參數 | 溫度范圍 | A型-20℃~+100℃(+150℃)/ B型 -40℃~+100℃(+150℃) C型 -70℃~+100℃ |
波動度 | ≤±0.5℃ |
均勻度 | ≤2℃ |
升溫速率 | 1.0~3.0℃/min |
降溫速率 | 0.7~1℃/min |