EDX系列x熒光光譜儀，能量色散X射線熒光光譜儀應用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質和半導體以及各種合金、貴金屬成份分析.
EDX系列x熒光光譜儀主要特點
●分析元素范圍 S-U
●分析元素的濃度范圍 2ppm—99%
●整機穩(wěn)定性連續(xù)8小時測RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測時間100-120秒
●美國進口電制冷Si（Pin）探測器
●電制冷Si（Pin）探測器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
●全數字脈沖處理器技術
●優(yōu)異的峰背比、的痕量分析靈敏度
● 50KV,50W自防護X-射線管
●復合濾光片智能切換技術
特征：
☆可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛
☆集成FP法，Alpha系數法、經驗系數法
☆安全聯(lián)動裝置，軟硬結合的輻射設計
☆操作簡單、一鍵式操作
☆智能軟件自動參數設定和選擇濾光片
☆ X射線管超溫保護
☆電子冷卻，無需液氮和其它耗材
技術規(guī)格
儀器型號 | EDX-1800x熒光光譜儀 |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
分析范圍 | S（16）-U（92）任意元素 |
檢出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm |
樣品形狀 | 任意大小，任何不規(guī)則形狀 |
樣品類型 | 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等 |
X射線管 | 靶材 | 鉬（Mo）靶 |
管電壓 | 5─50KV |
管電流 | 1─1000ｕA |
探測器 | 美國AMP-TEK Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統(tǒng) |
高壓發(fā)生器 | 美國SPELLMAN高壓發(fā)生器 |
濾光片 | 智能濾光片自動選擇并自動轉換 |
樣品觀察 | 500萬彩色攝像機 |
分析軟件 | 升級 |
分析方法 | Alpha系數法（NBS-GSC法）、FP法、標準曲線法 |
符合規(guī)范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 |
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