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秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡

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產(chǎn)品簡介

秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計(jì)應(yīng)用的理想平臺，秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡同時(shí)具備的精度和微量分析的能力。秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡擅長的一些應(yīng)用包括制備高質(zhì)量的超薄TEM樣品...

詳細(xì)介紹

以下是艾克賽普為您介紹秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡的主要特點(diǎn)，如有相關(guān)問題，請聯(lián)系長沙艾克賽普，聯(lián)系電話：。

秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡以的方式結(jié)合了三透鏡物鏡和crossover-free模式；*的且可隨意變化的探測系統(tǒng)可用于同步獲取不同的信號；超高的納米分辨率：15keV下0.7nm，1keV下1nm；極限超高分辨率：1keV下1nm；可變角度的BSE探測器，化了低能量下能量反差；實(shí)時(shí)電子束追蹤(In-flight Beam TracingTM）實(shí)現(xiàn)了電子束的化；傳統(tǒng)的TESCAN大視野光路（Wide Field OpticalTM）設(shè)計(jì)提供了不同的工作和顯示模式；有效減少熱能損耗，的電子鏡筒的穩(wěn)定性；新款的肖特基場發(fā)射電子槍現(xiàn)在能實(shí)現(xiàn)電子束電流達(dá)到400nA，且電子束能量可快速的改變；為失效分析檢測過程中的節(jié)點(diǎn)提供了的解決方案；適合精巧的生物樣品成像；可觀察磁性樣品；優(yōu)化的鏡筒幾何學(xué)配置使得8’’晶元觀察成為可能（SEM觀察和FIB納米加工）；的實(shí)時(shí)三維立體成像，使用了三維電子束技術(shù)友好的，成熟的SW模塊和自動(dòng)化程序；Cobra FIB鏡筒：高性能的Ga FIB鏡筒，實(shí)現(xiàn)超高精度納米建模；在刻蝕和成像方面是水平的技術(shù)；Cobra保證在最短時(shí)間內(nèi)完成剖面處理和TEM樣品制備FIB分辨率<2.5nm；FIB-SEM斷層分析可應(yīng)用于高分辨的三維顯微分析；適合生物樣品的三維超微結(jié)構(gòu)研究，例如組織和完整的細(xì)胞；低電壓下絕佳的性能，適合于刻蝕超薄樣品和減少非晶層。

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