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束倫(上海)技術(shù)服務(wù)有限公司


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場發(fā)射透射電子顯微鏡

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產(chǎn)品型號TALOS F200X

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更新時間:2023-12-24 08:47:21瀏覽次數(shù):184次

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產(chǎn)品簡介

性能指標加速電壓:200KV;電子槍:肖特基熱場發(fā)射超亮電子槍;TEM點分辨率:0.25nm;TEM信息分辨率:0.12nm;STEM分辨率:0.16nm;樣品傾斜角度X/Y:30;能譜能量分辨率:136ev;元素檢測范圍:B~U元素

詳細介紹

性能指標

  1. 加速電壓: 200 KV;
  2. 電子槍:肖特基熱場發(fā)射超亮電子槍;
  3. TEM點分辨率:0.25 nm;
  4. TEM信息分辨率: 0.12 nm;
  5. STEM分辨率: 0.16 nm;
  6. 樣品傾斜角度X/Y:±30°;
  7. 能譜能量分辨率:136 ev;
  8. 元素檢測范圍:B~U元素。 

主要應(yīng)用

  1. 對各種材料內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進行觀察;
  2. 粉末、納米顆粒形貌和粒徑觀察;
  3. 選區(qū)電子衍射和晶體結(jié)構(gòu)分析;
  4. 金屬、陶瓷、半導(dǎo)體、塑料、等顯微結(jié)構(gòu)分析;
  5. 配合能譜儀可以對樣品元素做面分布分析,以及各種元素進行定性和半定量微區(qū)分析,元素檢測范圍:B~U元素; 
  6. 利用三維樣品桿可以實現(xiàn)TEM、STEM和EDS三維重構(gòu)。

樣品要求

  1. 透射電鏡不能直接觀察所有含有鐵鈷鎳元素的樣品,請做如下處理,否則不予以觀察:粉末樣品請包埋切片,塊體樣品請FIB切片;
  2. 透射電鏡能夠觀察200nm以下的樣品;
  3. 對于粉末和液體樣品,要求樣品均勻分散在支持膜上并且干燥,能夠區(qū)分正反面;
  4. 對于塊體樣品,要求樣品大小為直徑3mm的圓,厚度小于200nm;
  5. 高分辨樣品要求厚度小于10nm。

 

儀器說明

  1. FEI Talos F200X 場發(fā)射透射電鏡的電子槍為肖特基熱場發(fā)射超亮電子槍,STEM 分辨率可以達到0.16nm。
  2. 配備4個SDD探頭的超級能譜集成到了透射電鏡的極靴里面,對稱地放在樣品的上方,可以高效率探測到微量元素,以及材料成分在一維,二維,甚至三維空間的分布信息。
  3. Talos F200X 還安裝了STEM明場和暗場探頭,可以同時得到STEM的明場像和暗場像以及髙角環(huán)形暗場像(HAADF)。 

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