半導體電子元器件可編程恒溫恒濕試驗箱

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更新時間：2023-02-28 10:27:52瀏覽次數：320次

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東莞市勤卓環(huán)境測試設備有限公司

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產品簡介

半導體電子元器件可編程恒溫恒濕試驗箱詳細說明：應用於航空、航太、電子儀器儀錶、電工產品、材料、零部件、設備等作高低溫漸變試驗、高溫高濕試驗、低溫低濕試驗、恒溫恒濕試驗。耐寒性試驗、低溫貯存，以便對試品在擬定環(huán)境條件下的性能、行為作出分析及評價。

詳細介紹

1.半導體電子元器件可編程恒溫恒濕試驗箱詳細說明：
應用於航空、航太、電子儀器儀錶、電工產品、材料、零部件、設備等作高低溫漸變試驗、高溫高濕試驗、低溫低濕試驗、恒溫恒濕試驗。耐寒性試驗、低溫貯存，以便對試品在擬定環(huán)境條件下的性能、行為作出分析及評價。

2.半導體電子元器件可編程恒溫恒濕試驗箱詳細參數：

一、本品優(yōu)勢性能

二、本品禁止：
&sp2;易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質試樣的試驗及儲存 &sp2;腐蝕性物質試樣的試驗及儲存 &sp2;生物試樣的試驗或儲存 &sp2;強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存
三、產品用途
可程式恒溫恒濕試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域*的測試設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數及性能。
四、主要技術參數
4.1	內腔尺寸	500600500mm (寬×高×深)
	外形尺寸	75016151224mm(寬×高×深)
	工作形式	低溫、高溫、濕熱按程序自動交變。.
	溫度范圍	-40~+150℃
	濕度范圍	20~98%
	降溫速率	1~1.2℃ / min(空載下非線性)
	升溫速率	2--3 ℃ / min (空載下非線性)
	溫度控制精度	0.01
	溫度均勻度	&plsmn;1.5℃
	溫度偏差	&plsmn;1.5
	濕度偏差	&plsmn;2.5%RH
	溫度交變范圍	-40℃～+150℃(任意溫度點可設定)
	試驗條件	可執(zhí)行 3 種試驗條件（高溫-低溫-濕熱）可編程控制，多段設定。
	噪音	65dB以內
4.2	1、GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術條件
	2、GB/T2423.1-2008 低溫試驗箱試驗方法
	3、GB/T2423.2-2008 高溫試驗箱試驗方法
	4、GB/T2423.4-2008 交變濕熱試驗方法
	5、GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗方法
	6、GJB150.9 濕熱試驗。。。。。。