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ISS 激光共聚焦快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/FCS

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更新時間:2023-08-05 12:57:20瀏覽次數(shù):368次

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商鋪產(chǎn)品:52條

所在地區(qū):

產(chǎn)品簡介

詳細(xì)介紹

激光共焦多維成像系統(tǒng):

    FLIM / FCS 時間分辨的空間分辨顯微系統(tǒng):

      ISS 推出新一代的快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/PLIM。成像速度可達(dá) 20 fps (@256×256),自由選擇1×1到4096×4096像元分辨率;同時獲取熒光壽命成像和共焦強(qiáng)度成像數(shù)據(jù),保持單分子級的檢測靈敏度。

    用于化學(xué)、納米、能源、生物等學(xué)科方向,單分子、活細(xì)胞、微區(qū)成像及形貌、能級結(jié)構(gòu)和能量傳遞特征的機(jī)理研究。滿足上轉(zhuǎn)換量子點(diǎn)及相關(guān)材料的壽命成像測試。。

     ISS以整機(jī)的熒光壽命成像系統(tǒng)為己任,實(shí)現(xiàn)共焦三維掃描模塊(針孔,二維振鏡、壓電臺或自動工作臺)和時間分辨模塊的結(jié)合,提供<100ps-100ms的全時域熒光壽命檢測;同時軟件融合Phasor Plots熒光壽命直讀半圓規(guī)的矢量圖技術(shù),可視化、直觀的提供熒光壽命分布及數(shù)值。

         熒光壽命成像數(shù)據(jù)分析進(jìn)入直讀時代。

    ISS 激光共焦掃描熒光壽命成像系統(tǒng),還可以同時滿足以下特殊需要:

    1. 雙光子的熒光壽命 FLIM/PLIM 成像;

    2. 深紫外激發(fā)的熒光壽命 FLIM / PLIM 成像;

    3. 紅二區(qū)熒光壽命 FLIM /PLIM 成像;

    4. 激光掃描大視場活體成像 FLIM /PLIM ; 

    5. 光譜采集及光譜成像;

    6. AFM聯(lián)用--活細(xì)胞工作站聯(lián)用--冷凍及加熱工作臺聯(lián)用;

    7. 納米顆粒三維跟蹤;(專有技術(shù))   


主要功能描述:(可以選擇雙光子功能)

    1. 激光共焦熒光強(qiáng)度成像LCM;

    2. 光壽命成像FLIM,磷光壽命成像PLIM;

    3. 上轉(zhuǎn)換熒光(壽命)成像,稀土發(fā)光(壽命)成像,延遲熒光(壽命)成像;

    4. 熒光波動成像FFS(FCS,F(xiàn)CCS, PCH,N&B, RICS, FLCS,scan-FCS),

    5. FLIM-FRET成像;熒光定量成像;

    6. 單量子點(diǎn)發(fā)光(壽命)成像,單分子及單分子熒光共振轉(zhuǎn)移成像smFRET,包括交替激發(fā)PIE成像;

    7. 穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像;

    8. 微區(qū)熒光光譜采集 400-1100nm;

    9. 反聚束測試(含專業(yè)軟件);

    10. 活細(xì)胞工作站升級(含多孔板

      儀器特點(diǎn): 

  • 實(shí)時直讀式獲得熒光壽命數(shù)值及變化趨勢,F(xiàn)RET效率分布;

  • 選擇350nm-1100nm加上900nm-1700nm波長范圍檢測器,2-4通道檢測器,用于成像,F(xiàn)LIM-FRET;

  • 可以升級無波長干擾AFM(正置或倒置),實(shí)現(xiàn)同區(qū)域形貌和FLIM同步測試;

  • 紫外-可見-紅外激發(fā)波長,單波長或超連續(xù)激光器;單光子或雙光子的激光器;


  主要技術(shù)指標(biāo) 

1. 熒光壽命測試范圍:100ps-100ms;

2. 最小時間分辨率≤1ps;

3. 數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)速率:65 MHz/channel

4. 檢測通道:upto 8 channels;

5. 標(biāo)配xy振鏡掃描,5kHz掃描頻率,配合xy閉環(huán)自動臺實(shí)現(xiàn)大區(qū)域掃描;

6. Phasor plots 用于數(shù)據(jù)分析;

7. 光譜采集;400-1100nm

8. 掃描透射成像;

9. 界面聚焦系統(tǒng);

10. 變溫附件;77k-500k;



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