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上海祥奉試驗(yàn)儀器設(shè)備廠
初級(jí)會(huì)員 | 第1年

15201768300

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兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱生產(chǎn)

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地上海市

更新時(shí)間:2025-01-26 06:32:13瀏覽次數(shù):105次

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XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等,同時(shí)可通過此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

一、產(chǎn)品介紹

XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等,同時(shí)可通過此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。


二、XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

型號(hào)

XF/WDCJ-100L

XF/WDCJ-225L

XF/WDCJ-500L

XF/WDCJ-010L

工作室尺寸D×W×H

450×450×500

600×600×600

800×800×800

1000×1000×1000

外型尺寸D×W×H

1560×870×1545

1710×1020×1845

1910×1220×2265

2110×1420×2665

樣品區(qū)尺寸D×W×H

250×250×250

400×400×450

600×600×600

800×800×750

功率(KW)A/B/C

13/15/17

15/17/18

18/21/21

20/24/27

性能
指標(biāo)

溫度范圍

A:-20℃~200℃ B:-40℃~200℃C:-60℃~200℃

溫度波動(dòng)

高溫室及低溫室均±2℃

樣品區(qū)溫度波動(dòng)

±0.5℃(恒溫時(shí))

樣品區(qū)承重

30kg

30kg

50kg

60kg

溫濕度運(yùn)行控制系統(tǒng)

控制器

進(jìn)口LED數(shù)顯(P·I·D +S·S·R)微電腦集成控制器

精度范圍

設(shè)定精度:溫度0.1℃,指示精度:溫度0.1℃,解析度:0.1℃

制冷系統(tǒng)

進(jìn)口德國(guó)谷輪半封閉水冷式壓縮機(jī)組/原裝法國(guó)“泰康"/全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式

循環(huán)系統(tǒng)

耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪

溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間

從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S

溫度恢復(fù)時(shí)間

≤5min(與溫度恢復(fù)條件有關(guān),既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān))

溫度沖擊方法

垂直兩箱法(兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱


三、兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)

 


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