一、芯片推力測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：

1.型號(hào)：LYD220

2.試驗(yàn)力選擇：500N、1kN、2kN、5kN；

3.傳感器精度等級(jí)：0.02%；

4.設(shè)備精度等級(jí)：0.5級(jí)；

5.試驗(yàn)力測(cè)量范圍：0.4%--FS；

6.試驗(yàn)力示值誤差：≤示值的±0.5%；

7.力分辨率：≥1/500000FS；

8.位移示值誤差：≤示值的±0.5%；

9.試驗(yàn)速度范圍：0.001mm/min--500mm/min（任意調(diào)）；

10.安全保護(hù)裝置：電子限位保護(hù)、緊急停止鍵和軟件過(guò)載自動(dòng)保護(hù)；

11.試驗(yàn)夾具裝置：拉拔夾具、剪切夾具、推力夾具（可選）

12.有效試驗(yàn)寬度：400、560mm或定做；

13、有效拉伸試驗(yàn)行程：800mm；

14、主機(jī)尺寸：800×420×1800mm；

15、主機(jī)重量：約320Kg。

16.可拓展配置：電子引伸計(jì),大變形（旋轉(zhuǎn)式或固定式）,高低溫箱;