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當前位置:上海百賀儀器科技有限公司>>光譜儀 - X熒光光譜儀(XRF)>> EDX1800X熒光光譜儀
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號EDX1800
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
更新時間:2023-08-09 13:40:57瀏覽次數(shù):232次
聯(lián)系我時,請告知來自 包裝印刷網(wǎng)一、X熒光光譜儀EDX1800的特點:
1、專業(yè)RoHS檢測,亦可用于鍍層檢測和全元素分析
2、內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上
3、針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片
4、電制冷硅針半導體探測器,摒棄液氮制冷
5、智能RoHS檢測軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單
二、X熒光光譜儀EDX1800的技術(shù)參數(shù):
1、輸入電壓:220±5V/50HZ(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)
2、消耗功率:≤100(不包含電腦)
3、環(huán)境溫度:15°C-30°C
4、環(huán)境濕度:35%-70%
5、樣品腔面積:605mm×385mm×60mm
6、測量元素:從硫到鈾等 75 種元素
7、元素含量分析范圍:1ppm-99.99%
8、RoHS 指令規(guī)定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)檢測限達 1ppm
9、測量時間:60-300s
10、能量分辨率:165±5eV
11、管壓:5-50 kV
12、管流:50-1000μA
13、外形尺寸:630mm×420mm×310 mm
14、重量:60kg
三、X熒光光譜儀EDX1800的配置:
1、信噪比增強器
2、的光路增強系統(tǒng)
3、電制冷硅針半導體檢測器
4、內(nèi)置高清晰攝像頭
5、自動切換準直器和濾光片
6、精準的移動平臺
7、加強金屬元素感度分析器
8、相互獨立的基體效應校正模型
9、任意多個可選擇的分析和識別模型
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