超聲波探傷儀試塊CSK-IACSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;

超聲波探傷儀試塊CSK-IA的特點(diǎn)是CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm三個(gè)臺(tái)階孔測定斜探頭分辨力。請(qǐng)選購超聲波探傷儀試塊CSK-IA