CST-50沖擊試樣缺口投影儀，是檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。符合廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗方法》中沖擊試樣缺口的要求，利用光學(xué)投影方法, 將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格。操作簡便，檢查對比直觀，效率高, 是目前切實可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法。

美標(biāo)/國標(biāo)/歐標(biāo)沖擊試樣缺口投影儀

型號：CST-50 品牌：匯富

 

沖擊試樣缺口投影儀CST-50介紹：

CST-50沖擊試樣缺口投影儀，是檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。符合廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗方法》中沖擊試樣缺口的要求，利用光學(xué)投影方法, 將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格。操作簡便，檢查對比直觀，效率高, 是目前切實可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法。

沖擊試樣缺口投影儀CST-50優(yōu)勢：

目前很多行業(yè)已經(jīng)執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》中的要求，該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響試驗結(jié)果，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的結(jié)果。所以為保證試樣缺口的合格，其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段，目前用光學(xué)投影放大檢驗是切實可行的方法。

沖擊試樣缺口投影儀CST-50工作原理：

本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。

根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一致。

沖擊試樣缺口投影儀CST-50主要參數(shù)：

投影屏直徑：  180mm    

方工作臺尺寸：  110×125mm  

圓工作臺直徑：  90mm  

工作臺玻璃直徑：  70mm

放大倍數(shù)：  

儀器放大倍率：  50X  

物鏡放大倍率：  2.5X  

投影物鏡放大倍率：  20X  

光源（鹵鎢燈）：  12V 100W  

外形尺寸：  515×224×603mm（長×寬×高）  

工作臺行程：  

縱向：  ±10mm  

橫向：  ±10mm  

升降：  ±12mm（無刻度）  

工作臺轉(zhuǎn)動范圍：  0-360°（無刻度）  

 

山東匯富試驗機制造有限公司致力于生產(chǎn)沖擊試驗低溫槽，沖擊試驗機，沖擊試樣缺口拉床，沖擊試驗缺口投影儀等沖擊試驗設(shè)備以及其它試驗機，工業(yè)低溫設(shè)備，為各行各業(yè)提供優(yōu)質(zhì)的工業(yè)化產(chǎn)品。歡迎新老客戶垂詢， ， ， ， 。