貴金屬礦檢測(cè)的核心痛點(diǎn)
含量極低:
巖金礦:Au常為1-10 g/t(≈1-10 ppm)
砂金礦:可能低至0.1 g/t
鉑族元素(Pt、Pd等):多低于1 ppm
干擾因素多:
共生礦物(如黃鐵礦包裹金)
基體效應(yīng)(銅銀共生礦中的信號(hào)重疊)
手持式XRF光譜儀
野外快速篩查金礦(Au)、銀礦(Ag)等,檢測(cè)限通常為5~50 ppm。
無法直接檢測(cè)鉑族元素(如Pt、Pd需高性能型號(hào))。
便攜、無損、速度快(10秒/點(diǎn))。
操作避坑指南
樣品制備:
XRF檢測(cè)面需打磨至400目以上
避免使用含鉛拋光劑(干擾Au信號(hào))
校準(zhǔn)驗(yàn)證:
每日用標(biāo)樣(如GSA-8A金礦標(biāo)樣)校準(zhǔn)
當(dāng)檢測(cè)值接近設(shè)備檢出限,必須實(shí)驗(yàn)室復(fù)檢
數(shù)據(jù)解讀:
手持XRF的"Au"峰值需排除Hg干擾(常見于銻金礦)