（一）、箱體構(gòu)造：
2.1.1. 內(nèi)箱材料：采用1.2mm厚SUS304#不銹鋼經(jīng)過(guò)高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理，精美大方。
2.1.2. 外箱材料：采用1.2mm厚冷軋鋼板經(jīng)過(guò)高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理后高溫噴粉烤漆處理表面，有效防止生銹，外觀烤漆處理。
2.1.3. 保溫材料：采用耐高溫玻璃纖維棉+聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡膠制作而成混合保溫層，保溫效果明顯。
2.1.4. 斷熱層：高溫區(qū)與低溫區(qū)間采用加厚保溫層斷熱，吊籃移動(dòng)孔連接板采用環(huán)氧樹(shù)脂板斷熱。
模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于測(cè)試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展，電子模塊和芯片在各種工作條件下的可靠性變得尤為重要，因此需要進(jìn)行冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)，以確保其在實(shí)際應(yīng)用中能穩(wěn)定工作。
試驗(yàn)箱的主要功能和特點(diǎn)：
模擬冷熱沖擊環(huán)境：
試驗(yàn)箱通過(guò)精確的溫度控制和變化速率，模擬芯片和電子模塊在實(shí)際使用過(guò)程中可能遇到的溫差沖擊。這包括從高溫到低溫的快速轉(zhuǎn)換（冷熱循環(huán)沖擊）以及溫度的急劇波動(dòng)。
試驗(yàn)過(guò)程可以模擬芯片在電子設(shè)備或系統(tǒng)中的實(shí)際工作環(huán)境，如啟動(dòng)時(shí)的低溫環(huán)境或高溫環(huán)境下的運(yùn)作。
溫度范圍和變化速率：
芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱通常具備較寬的溫度控制范圍，常見(jiàn)范圍為**-40°C至+150°C**，設(shè)備可以達(dá)到**-70°C至+180°C**，能夠滿足各種芯片和模塊的測(cè)試需求。
溫度變化速率通常在5°C/min至20°C/min之間，測(cè)試過(guò)程中溫度的快速變化模擬實(shí)際應(yīng)用中可能出現(xiàn)的環(huán)境變化。
冷熱循環(huán)功能：
該試驗(yàn)箱可進(jìn)行冷熱循環(huán)試驗(yàn)，通過(guò)周期性地變化溫度，模擬設(shè)備在真實(shí)環(huán)境中的反復(fù)冷熱交替變化。冷熱循環(huán)的次數(shù)和周期可以根據(jù)測(cè)試需求進(jìn)行調(diào)整，通常為數(shù)十到幾百個(gè)循環(huán)。
每個(gè)循環(huán)包括高溫階段、低溫階段以及冷卻/加熱過(guò)程，模擬從一個(gè)溫度到另一個(gè)溫度的環(huán)境變化。
精確的溫控與均勻性：
高精度的溫度控制系統(tǒng)是試驗(yàn)箱的一大特點(diǎn)，通常要求溫度波動(dòng)在±0.5°C以?xún)?nèi)，確保試驗(yàn)條件的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。
試驗(yàn)箱內(nèi)部的溫度均勻性非常重要，確保溫度在整個(gè)測(cè)試空間內(nèi)均勻分布，避免局部溫差影響測(cè)試結(jié)果。
濕度控制（可選）：
部分試驗(yàn)箱可能配有濕度控制系統(tǒng)，用于模擬潮濕環(huán)境下的測(cè)試條件，特別適用于芯片或模塊在潮濕環(huán)境中的穩(wěn)定性測(cè)試。濕度范圍通常為20%RH至98%RH。
自動(dòng)化控制與數(shù)據(jù)記錄：
芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱通常配有自動(dòng)化控制系統(tǒng)，可以通過(guò)觸摸屏、PC或遠(yuǎn)程控制系統(tǒng)進(jìn)行操作，設(shè)置溫度、時(shí)間、循環(huán)次數(shù)等參數(shù)。
設(shè)備還支持數(shù)據(jù)記錄和實(shí)時(shí)監(jiān)控，能夠自動(dòng)記錄每個(gè)測(cè)試周期的溫度、濕度變化、測(cè)試時(shí)間等信息，為后續(xù)分析和報(bào)告提供支持。
安全保護(hù)設(shè)計(jì)：
為了保證試驗(yàn)過(guò)程的安全性，試驗(yàn)箱通常配備有過(guò)溫保護(hù)、防止設(shè)備損壞的功能。例如，在設(shè)備溫度超過(guò)設(shè)定范圍或出現(xiàn)故障時(shí)，會(huì)自動(dòng)啟動(dòng)保護(hù)機(jī)制，避免對(duì)芯片或模塊造成損壞。
多樣化的測(cè)試空間：
試驗(yàn)箱內(nèi)部空間大小可以根據(jù)不同測(cè)試需求進(jìn)行定制，適用于各種尺寸的芯片和電子模塊。不同的內(nèi)部架構(gòu)設(shè)計(jì)可以容納多個(gè)模塊芯片同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，或者單個(gè)芯片的精密測(cè)試。
應(yīng)用領(lǐng)域：
電子元器件與芯片制造：
該試驗(yàn)箱常用于電子元器件、芯片以及其他電子模塊的可靠性驗(yàn)證，測(cè)試其在溫度變化中的穩(wěn)定性。芯片和模塊在面對(duì)不同的溫差沖擊時(shí)，可能會(huì)由于熱膨脹和熱收縮導(dǎo)致焊點(diǎn)松動(dòng)、線路斷裂或內(nèi)部結(jié)構(gòu)損壞，因此需要通過(guò)冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證其耐溫性和可靠性。
汽車(chē)電子：
車(chē)載電子系統(tǒng)中的芯片和模塊（如發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元、車(chē)載計(jì)算機(jī)、傳感器模塊等）需要應(yīng)對(duì)汽車(chē)在溫度變化下的工作環(huán)境。冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)幫助確保這些電子設(shè)備在高溫、低溫及快速溫度變化下能夠正常工作。
通訊行業(yè)：
在通信設(shè)備（如基站、手機(jī)、衛(wèi)星通訊設(shè)備等）中，芯片和電子模塊需要承受長(zhǎng)時(shí)間的溫差變化，因此通過(guò)冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證其性能和可靠性非常重要。
消費(fèi)電子：
智能手機(jī)、平板電腦、筆記本電腦等消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品中的芯片和模塊需要保證在環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行。冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)可以有效評(píng)估其在冷熱交替環(huán)境中的工作能力，確保產(chǎn)品質(zhì)量。
航空航天：
在航空航天領(lǐng)域，芯片和電子模塊需要在廣泛的溫度范圍內(nèi)可靠工作。冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)可以模擬高空飛行過(guò)程中設(shè)備所遇到的溫差，確保電子設(shè)備能在航天環(huán)境中正常工作。
軍事裝備：
JUN用電子設(shè)備，如雷達(dá)、導(dǎo)航系統(tǒng)、傳感器等，常常暴露在的溫度和快速變化的溫差下。通過(guò)冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)，可以確保這些設(shè)備在苛刻環(huán)境中不失效。
總結(jié)：
模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是用于測(cè)試電子模塊和芯片在溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性的專(zhuān)業(yè)設(shè)備。它通過(guò)模擬芯片和電子模塊在真實(shí)工作環(huán)境中的溫度變化（冷熱沖擊），幫助評(píng)估其在溫差、熱膨脹、熱收縮等條件下的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和工作性能。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造、汽車(chē)電子、通訊、消費(fèi)電子、航空航天及軍事等領(lǐng)域，確保電子元件在各種環(huán)境下的高可靠性和穩(wěn)定性。
