一、概述
滄州歐譜OU3500鋅層測(cè)厚儀是歐譜公司研發(fā)的新產(chǎn)品，是一種小型便攜式儀器，磁性測(cè)厚儀也稱涂層測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、涂鍍層測(cè)厚儀。其性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、重現(xiàn)性好、經(jīng)濟(jì)耐用，符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957，多次通過(guò)國(guó)家技術(shù)監(jiān)督部門的性能試驗(yàn)，獲得計(jì)量器具制造許可證。
二、主要特點(diǎn)：
1. 零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。
儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
2. 線性編輯：多數(shù)涂層測(cè)厚儀除了基礎(chǔ)校零外，儀器本身沒有線性編輯，使得測(cè)量重復(fù)性誤差大，本儀器出廠加入線性編輯增加測(cè)量精度與重復(fù)穩(wěn)定性。
3. 溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
4. 的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有的*和提高。
OU3500涂層測(cè)厚儀探頭
· 測(cè)厚儀最容易損壞的部件是探頭，本公司的OU3500涂層測(cè)厚儀對(duì)探頭做了特殊的耐久性設(shè)計(jì)，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。
OU3500涂層測(cè)厚儀探頭線
· 由于涂鍍層測(cè)厚儀使用頻率很高，探頭線成為易損件。一般國(guó)產(chǎn)儀器的探頭用不多久就會(huì)出現(xiàn)故障，多數(shù)問(wèn)題出在探頭線上。 OU3500鍍層測(cè)厚儀使用的探頭線是在日本定做的。這種導(dǎo)線最初用于機(jī)器人，規(guī)定可經(jīng)受幾百萬(wàn)次的曲折。實(shí)踐證明，這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。
OU3500涂層測(cè)厚儀是德國(guó)EPK/易高等同類產(chǎn)品的替代產(chǎn)品，與之前涂層測(cè)厚儀相比有以下主要優(yōu)點(diǎn)：
1.測(cè)量速度快：測(cè)量速度比其它Time系列快6倍；
2.精度高 ：本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上能達(dá)到的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于國(guó)內(nèi)同類，比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；
3.穩(wěn)定性：測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；
4.功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文OU3600覆層測(cè)厚儀
三、適用范圍
OU3500鍍層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
本儀器廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。
四、主要技術(shù)指標(biāo)
型號(hào) | OU3500-F | OU3500-N |
測(cè)定對(duì)象 | 磁性金屬上非磁性涂鍍層 | 非磁性金屬上絕緣層 |
測(cè)量范圍 | F1、N1、F1/90-0～1500um F400、N400-0～400um F3/N3-0～3000um、F10-0～10000um | |
測(cè)量誤差 | F1、N1、F1/90-(2%H+1)；二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1％ F400、N400-(2%H+0.7) 二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1％ F10-(2%H+10) 二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1％ | |
校準(zhǔn)方法 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn) | |
顯示分辨率 | 0.1μm(測(cè)量范圍小于100μm)、1μm(測(cè)量范圍大于100μm) | |
存儲(chǔ) | 存儲(chǔ)500個(gè)數(shù)據(jù) | |
工作方式 | 直接方式和成組方式 | |
測(cè)量方式 | 連續(xù)測(cè)量和單次測(cè)量 | |
關(guān)機(jī)方式 | 手動(dòng)關(guān)機(jī)和自動(dòng)關(guān)機(jī) | |
統(tǒng)計(jì)功能 | 測(cè)量次數(shù)、值、最小值、平均值 | |
設(shè)置限界 | 對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警，并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析 | |
刪除功能 | 對(duì)粗大誤差及錯(cuò)誤設(shè)置可進(jìn)行刪除處理 | |
提示音 | 音樂(lè)鈴聲 | |
其它功能 | 電源欠壓指示、錯(cuò)誤提示 | |
溫度補(bǔ)償 | 0～50℃ | |
使用環(huán)境溫度 | -10℃～60℃ | |
電源 | 1.5V×2 | |
外型尺寸 | 150×80×30mm | |
重量 | 300g | |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、F型或N型探頭、校準(zhǔn)片、基體一塊、電池、說(shuō)明書、保修卡、儀器箱 | |
五、儀器選型指南
產(chǎn)品圖片 |  |  |  |
型號(hào) | OU3100 | OU3500 | OU3600 |
工作原理 | 磁感應(yīng)/電渦流 | 磁感應(yīng)/電渦流 | 磁感應(yīng)/電渦流 |
型式 | 一體式 | 分體式 | 分體式 |
測(cè)量范圍 | 0～1250um | 0～1500um 0～3000um 0～10000um | 0～1500um 0～3000um 0～10000um |
顯示精確度 | 1um | 0.1μm(測(cè)量范圍小于100μm) 1μm(測(cè)量范圍大于100μm) | 0.1μm(測(cè)量范圍小于100μm) 1μm(測(cè)量范圍大于100μm) |
測(cè)量誤差 | ±3%H+1um | ±2%H+1um | ±2%H+1um |
溫度補(bǔ)償 | 有 | 有 | 有 |
設(shè)置界限 | 無(wú) | 有 | 有 |
背光 | 無(wú) | 有 | 有 |
存儲(chǔ)功能 | 無(wú) | 有 | 有 |
通訊功能 | 無(wú) | 有 | 有 |
打印功能 | 無(wú) | 無(wú) | 有 |
統(tǒng)計(jì)功能 | 無(wú) | 測(cè)量次數(shù)、值、最小值、平均值 | 測(cè)量次數(shù)、值、最小值、平均值 |
可更換探頭 | 無(wú) | F1/N1/F190/F400/N400/F3/F10 | FN/F1/N1/F190/F400/N400/F3/F10 |
六、各種探頭
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涂層測(cè)厚儀F1探頭 ■ 工作原理：磁感應(yīng) ■ 測(cè)量范圍：0-1500um ■ 低分辨力：0.1um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸1.5mm 2.基體最小面積的直徑：Ф7mm 3.最小臨界厚度：0.5mm ■ 探頭尺寸：Ф12×47mm | 涂層測(cè)厚儀N1探頭 ■ 工作原理：電渦流 ■ 測(cè)量范圍：0-1500um ■ 低分辨力：0.1um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸3mm 2.基體最小面積的直徑：Ф5mm 3.最小臨界厚度：0.3mm ■ 探頭尺寸：Ф15×73mm | 涂層測(cè)厚儀FN探頭 ■ 工作原理：磁感應(yīng)/電渦流 ■ 測(cè)量范圍：0-1250um ■ 低分辨力：0.1um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸3mm 2.基體最小面積的直徑：Ф5mm 3.最小臨界厚度：0.5mm ■ 探頭尺寸：Ф15×73mm |
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涂層測(cè)厚儀F400探頭 主要用于較薄厚度的涂層測(cè)量，可獲得更精確的測(cè)量結(jié)果和更高的重復(fù)性，另外在管材基體直徑較小或者被測(cè)區(qū)域接觸面積較小時(shí)，F(xiàn)400探頭也是的選擇。 ■ 工作原理：磁感應(yīng) ■ 測(cè)量范圍：0-400um ■ 低分辨力：0.1um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+0.7]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸1mm 2.基體最小面積的直徑：Ф3mm 3.最小臨界厚度：0.2mm ■ 探頭尺寸：Ф12×55mm | 涂層測(cè)厚儀N400探頭 ■ 工作原理：電渦流 ■ 測(cè)量范圍：0-400um ■ 低分辨力：0.1um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[1%H+1]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸1.5mm 2.基體最小面積的直徑：Ф4mm 3.最小臨界厚度：0.3mm ■ 探頭尺寸：Ф15×73mm | 涂層測(cè)厚儀F05探頭 探頭外徑Ф5,專用于小凹槽測(cè)量 ■ 工作原理：磁感應(yīng) ■ 測(cè)量范圍：0-500um ■ 低分辨力：0.1um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+0.7]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸1mm 2.基體最小面積的直徑：Ф3mm 3.最小臨界厚度：0.2mm ■ 探頭尺寸：Ф5×55mm |
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涂層測(cè)厚儀F3探頭 ■ 工作原理：磁感應(yīng) ■ 測(cè)量范圍：0-3000um ■ 低分辨力：1um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸1.5mm 2.基體最小面積的直徑：Ф7mm 3.最小臨界厚度：0.5mm ■ 探頭尺寸：Ф12×47mm | 涂層測(cè)厚儀F3高溫探頭,溫度300度 ■ 工作原理：磁感應(yīng) ■ 測(cè)量范圍：0-3000um ■ 低分辨力：1um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+3]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+3]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸6mm 2.基體最小面積的直徑：Ф7mm 3.最小臨界厚度：0.5mm ■ 探頭尺寸：Ф12×47mm | 涂層測(cè)厚儀N3探頭 ■ 工作原理：電渦流 ■ 測(cè)量范圍：0-3000um ■ 低分辨力：1um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+3]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[1%H+3]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸6mm 2.基體最小面積的直徑：Ф7mm 3.最小臨界厚度：1mm ■ 探頭尺寸：Ф15×73mm |
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涂層測(cè)厚儀F10探頭 主要用于大厚度的涂層測(cè)量。選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片，用于校準(zhǔn)儀器。 ■ 工作原理：磁感應(yīng) ■ 測(cè)量范圍：0-10000um ■ 分辨力：1000um以下1um,1000um以上10um ■ 示值誤差： 1.一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um 2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+10]um ■ 測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑：凸10mm 2.基體最小面積的直徑：Ф40mm 3.最小臨界厚度：2mm ■ 探頭尺寸：Ф27×47mm | 涂層測(cè)厚儀F1/90探頭 ■ 低分辨力：0.1um |
